[url=....://tellustech.vn/danh-muc-san-pham/528-thiet-bi-kiem-tra-chat-doc-hai-va-do-day-lop-phu.html][b]Máy phân tích chất độc hại[/b][/url]

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

- Phương pháp đo: Phân tích năng lượng phân tán của tia X

- Loại mẫu: Đa tầng, rắn, lỏng, bột

- ống tia X: W Target 50kVp, 1mA

- Bộ lọc: 5 bộ lọc thay đổi tự động

- Hệ thống phát hiện: SDD(Silicon Drift Detector), Si-Pin Diode(Pe..ier System)

- Phân giải năng lượng: 135 eV FWHM at Mn Kα

- Nguyên tố phát hiện: Na(11) ~ U(92)

- Diện tích đo: 0.1, 0.2, 0.4, 0.5, 1 mm

- Phương pháp phân tích: FP/đường cong hiệu chuẩn , hấp thụ, huỳnh quang

- Giám sát giai đoạn: 2stage CCD Camera

- Hệ thống điều khiển: Desk-Top, Notebook, USB interface

- Diện tích đo mẫu: 500 X 470 X 200 mm (W x D x H), wide PCB support

- Khoảng cách mẫu di chuyển: 200 X 200 X 150 mm (X x Y x Z), wide PCB support

- Kich thước: 500 X 700 X 570 mm (W x D x H)

- Công suất: 110/220 VAC 50~60Hz

- Nặng: 85Kg(...)

ĐẶC TRƯNG

- Đây là sản phẩm thống nhất, có thể đo độ dày lớp phủ, phân tích chất độc hại, và phân tich kim loại nặng

- Đo độ dày không phá hủy, không tiếp xúc lớp phủ bằng tia X. Đo nhiều sản phẩm khác nhau như phân tích lớp phủ đơn, lớp phủ kép, lớp phủ hợp kim và lớp phủ chất lỏng. Thông qua chức năng kiểm soát trục con lăc tự động, hoàn toàn phù hợp với vị trí camera với chức năng sắp xếp giai đoạn tự động điểm đo.

[b]Xem ... tiết tại >>> [url=....://tellustech.vn/danh-muc-san-pham/528-thiet-bi-kiem-tra-chat-doc-hai-va-do-day-lop-phu.html]....://tellustech.vn/danh-muc-san-pham/528-thiet-bi-kiem-tra-chat-doc-hai-va-do-day-lop-phu.html[/url][/b]